Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"subpixelová detekce hran"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Metoda fyzikálního modelování přechodových hran v obraze pro určení skutečné pozice obrysu předmětu
 Kohoutek, Michal ; Vodrážka, Jiří (oponent) ; Diviš, Zdeněk (oponent) ; Škorpil, Vladislav (vedoucí práce)
Disertační práce se zabývá návrhem nové originální metody fyzikálního modelování přechodových hran v obraze pro určení skutečné subpixelové pozice obrysu předmětu. Aplikační oblastí vyvinuté metody je oblast vysoce přesných měření geometrických rozměrů předmětů v průmyslových inspekčních systémech. Návrh metody vychází z detailní fyzikální analýzy definovaného zobrazovacího systému, jehož stěžejními částmi jsou telecentrická optická soustava, zdroj vysoce telecentrického osvětlení a CCD kamera. Výsledkem provedené fyzikální analýzy z pohledu geometrické a Fourierovské optiky je komplexní fyzikální model zobrazení hrany předmětu zájmu, spolu s definicí způsobu určení skutečné pozice obrysu předmětu v rámci modelu. Model je podrobně prozkoumán a diskutován z hlediska vlivu jednotlivých parametrů na přesnost určení pozice obrysu předmětu. Následně je z něj odvozena modelující funkce přechodové hrany v podobě vhodné pro definici metody optimalizované aproximace reálných přechodových hran. Navržená metoda fyzikálního modelování přechodové hrany a určení subpixelové pozice obrysu předmětu je nejprve ověřena se syntetickými daty a implementována do měřicího systému Tester2D. Metodou dosahovaná přesnost měření geometrických rozměrů z reálně snímaných obrazů je ověřena formou měření etalonů délky. Měřicí systém Tester2D byl úspěšně akreditován pro měření rozměrů v rozsahu s přesností až , což je doloženo protokolem o akreditaci v příloze disertační práce, spolu s dokladem o dosažených výsledcích měřicího systému v rámci uskutečněného mezilaboratorního srovnávání.
Úplný záznam
Metoda fyzikálního modelování přechodových hran v obraze pro určení skutečné pozice obrysu předmětu
 Kohoutek, Michal ; Vodrážka, Jiří (oponent) ; Diviš, Zdeněk (oponent) ; Škorpil, Vladislav (vedoucí práce)
Disertační práce se zabývá návrhem nové originální metody fyzikálního modelování přechodových hran v obraze pro určení skutečné subpixelové pozice obrysu předmětu. Aplikační oblastí vyvinuté metody je oblast vysoce přesných měření geometrických rozměrů předmětů v průmyslových inspekčních systémech. Návrh metody vychází z detailní fyzikální analýzy definovaného zobrazovacího systému, jehož stěžejními částmi jsou telecentrická optická soustava, zdroj vysoce telecentrického osvětlení a CCD kamera. Výsledkem provedené fyzikální analýzy z pohledu geometrické a Fourierovské optiky je komplexní fyzikální model zobrazení hrany předmětu zájmu, spolu s definicí způsobu určení skutečné pozice obrysu předmětu v rámci modelu. Model je podrobně prozkoumán a diskutován z hlediska vlivu jednotlivých parametrů na přesnost určení pozice obrysu předmětu. Následně je z něj odvozena modelující funkce přechodové hrany v podobě vhodné pro definici metody optimalizované aproximace reálných přechodových hran. Navržená metoda fyzikálního modelování přechodové hrany a určení subpixelové pozice obrysu předmětu je nejprve ověřena se syntetickými daty a implementována do měřicího systému Tester2D. Metodou dosahovaná přesnost měření geometrických rozměrů z reálně snímaných obrazů je ověřena formou měření etalonů délky. Měřicí systém Tester2D byl úspěšně akreditován pro měření rozměrů v rozsahu s přesností až , což je doloženo protokolem o akreditaci v příloze disertační práce, spolu s dokladem o dosažených výsledcích měřicího systému v rámci uskutečněného mezilaboratorního srovnávání.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English